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Estudio de propiedades estructurales de películas delgadas de cds depositadas por sublimación en espacio semicerrado

Cediel, G. and Caicedo, L. M. and Flórez, M. and Gordillo, G. (1993) Estudio de propiedades estructurales de películas delgadas de cds depositadas por sublimación en espacio semicerrado. MOMENTO - Revista de Física; núm. 8 (1993); 5-14 0121-4470 .

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URL oficial: http://revistas.unal.edu.co/index.php/momento/arti...

Resumen

En este trabajo se estudia el efecto de las temperaturas del sustrato y de evaporación, de la distancia entre el evaporador y el sustrato sobre la fase y la orientación cristalográfica de películas delgadas de CdS, preparadas por el método de sublimación en espacio semicerrado (C.S.S.) usando la técnica de difracción de rayos-x., In this work we study the effect of substrate and evaporation temperatures and substrate-evaporator distance on the phase and crystallographic orientation of CdS thin films prepared by the C.S.S. method using the x-ray diffraction technique.

Tipo de documento:Artículo - Article
Palabras clave:Temperaturas del sustrato, Evaporación, Difracción de rayos-x.
Unidad administrativa:Revistas electrónicas UN > MOMENTO - Revista de Física
Código ID:34995
Enviado por : Dirección Nacional de Bibliotecas STECNICO
Enviado el día :01 Julio 2014 17:58
Ultima modificación:05 Junio 2018 20:34
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